Los micro-LEDs se perfilan como el motor de las próximas generaciones de pantallas de alta gama: más brillantes, más eficientes y con mejor durabilidad. Pero hay un obstáculo que sigue siendo un dolor de cabeza para los fabricantes: comprobar que cada minúsculo componente funciona correctamente, sin destruirlo en el proceso.
Hasta ahora, gran parte del testeo a nivel de oblea era destructivo o ineficiente, lo que afectaba tanto al rendimiento como a los costos de producción. Este es el problema que un grupo de investigadores de la Universidad de Tianjin, liderados por el profesor Huang Xian, ha decidido abordar con una propuesta ingeniosa y delicada: una sonda de contacto flexible que prueba sin rasguñar. Continúa leyendo «Un nuevo enfoque «suave» promete mejorar el testeo de micro-LEDs sin dañar los materiales»